ОЭТ1-С-К Стендовый ОЭТ1-С-К Связь с ПК
Стендовый Связь с ПК
ОЭТ1-С-К: 69базовых экспериментов ОЭТ1-С-К: 2 рабочих места
69 работ Для 2 чел.

ГАРАНТИЯ ДО 5 ЛЕТ

+ Постгарантийная поддержка от завода-изготовителя на весь срок службы стенда

ПРОЧНАЯ ЗАЩИТА

Стенд выдерживает неумелое обращение, перегрузки, короткие замыкания

БЫСТРЫЙ СТАРТ

Шаг за шагом от начала до конца опыта вас проведет подробное руководство

ГИБКОЕ РЕШЕНИЕ

Под ваши задачи расширим или сократим набор сменных модулей ГалСен®

Основы аналоговой электроники

1. Полупроводниковые приборы.
1.1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов на постоянном и переменном токах.
1.2. Определение основных характеристик стабилитрона и исследование параметрического стабилизатора напряжения.
1.3. Экспериментальное снятие вольтамперной характеристики светодиода.
1.4. Исследование диода с переменной ёмкостью (варикапа).
1.5. Испытание p-n переходов биполярного транзистора и снятие его выходных характеристик с помощью осциллографа.
1.6. Снятие статических характеристик транзистора на постоянном токе.
1.7. Выбор рабочей точки биполярного транзистора и ознакомление с режимами усиления переменного напряжения классов A, B, AB и D.
1.8. Снятие статических характеристик полевого транзистора с p-n переходом.
1.9. Снятие статических характеристик полевого транзистора с изолированным затвором и индуцированным каналом.
1.10. Экспериментальное определение основных характеристик тиристоров.
1.11. Экспериментальное определение основных характеристик и параметров оптопар.
2. Электронные цепи и микросхемотехника.
2.1. Сравнительное исследование одиночных усилительных каскадов на биполярных транзисторах.
2.2. Исследование усилительных каскадов на полевых транзисторах.
2.3. Исследование двухкаскадного транзисторного усилителя.
2.4. Исследование двухтактного усилителя мощности на биполярных транзисторах.
2.5. Исследование основных схем включения операционного усилителя.
2.6. Снятие частотных характеристик операционного усилителя.
2.7. Исследование схем суммирования, интегрирования и дифференцирования на операционном усилителе.
2.8. Экспериментальное определение характеристик RC-фильтров на операционном усилителе.
2.9. Исследование простейшего логарифмирующего преобразователя на операционном усилителе.
2.10. Исследование генератора синусоидальных колебаний на операционном усилителе.
2.11. Знакомство с принципом действия триггера Шмидта и релаксационных генераторов на операционном усилителе.
2.12. Знакомство с работой RS-триггера, мультивибратора и одновибратора на транзисторах.
2.13. Исследование аналоговых интегральных компараторов и цепей с ними.
2.14. Исследование аналогового таймера на интегральной микросхеме в автоколебательном и ждущем режимах.
2.15. Исследование генератора напряжений специальной формы (функционального генератора) на интегральной микросхеме.
3. Стабилизаторы и вторичные источники питания.
3.1. Исследование однополупериодной и мостовой схем выпрямления.
3.2. Исследование трёхфазной мостовой схемы выпрямления и сглаживающих фильтров.
3.3. Знакомство с принципом построения управляемых выпрямителей и тиристорных регуляторов с фазовым управлением.
3.4. Исследование компенсационных стабилизаторов напряжения и тока.
3.5. Испытание основных схем включения линейного интегрального стабилизатора напряжения.
3.6. Знакомство с принципом действия широтно-импульсного преобразователя постоянного напряжения.
3.7. Исследование интегрального импульсного преобразователя-стабилизатора напряжения с частотно-импульсной модуляцией.

Основы цифровой электроники

1. Тестирование базовых логических элементов (НЕ, И, ИЛИ, И-НЕ, ИЛИ-НЕ, исключающее ИЛИ, исключающее ИЛИ-НЕ).
2. Сборка и тестирование простейших комбинационных узлов цифровых устройств.
2.1. Комбинационный узел на основе базовых логических элементов для реализации произвольной логической функции.
2.2. Комбинационные узлы на основе базовых логических элементов для экспериментального подтверждения законов алгебры логики.
2.3. Одноразрядные полусумматор и сумматор.
2.4. Преобразователь кода и дешифратор.
2.5. Мультиплексор и демультиплексор.
3. Сборка и тестирование последовательностных узлов цифровых устройств.
3.1. Триггеры.
3.2. Счетчики.
3.3. Регистры.
4. Сборка и тестирование цифро-аналоговых преобразователей.
4.1. Цифро-аналоговый преобразователь с выходом по току.
4.2. Цифро-аналоговый преобразователь с выходом по напряжению.
4.3. Схемы сравнения кодов.
4.4. Широтно-импульсный модулятор.
5. Сборка и тестирование аналого-цифровых преобразователей.
5.1. Аналоговый компаратор.
5.2. Аналого-цифровой преобразователь развертывающего преобразования.
5.3. Аналого-цифровой преобразователь следящего преобразования.
5.4. Аналого-цифровой преобразователь последовательного приближения.
6. Сборка и тестирование одновибраторов и мультивибраторов.
6.1. Тестирование микросхемы К155АГ3 в режиме одновибратора и мультивибратора.
6.2. Тестирование таймера в режиме одновибратора и мультивибратора.
7. Сборка и тестирование ОЗУ и ПЗУ.
8. Сборка и тестирование схемы контроля четности.
9. Исследование схемотехники логических элементов.
9.1. Логический элемент 2И-НЕ.
9.2. Логический элемент 2И-НЕ с открытым коллектором.
9.3. Логический элемент НЕ.

Основы микропроцессорной техники

1. Изучение базовых возможностей оборудования и среды программирования.
1.1. Изучение программной оболочки.
2. Программирование таймеров микроконтроллера.
2.1. Формирование выдержки времени с помощью таймера.
2.2. Формирование сигнала заданной частоты.
2.3. Определение длительности внешних сигналов с помощью таймеров.
2.4. Изучение счетчика с программируемым коэффициентом деления на базе таймера.
2.5. Использование прерываний при программировании микроконтроллера.
2.6. Программирование АЦП микроконтроллера.
2.7. Изучение ЦАП на базе ШИМ-сигналов микроконтроллера.
3. Передача сигналов по последовательным каналам связи.
3.1. Передача данных с использованием канала SPI.
3.2. Передача данных с использованием канала USART.
4. Применение микроконтроллера в прикладных задачах.
4.1. Измерение интервалов времени (секундомер).
4.2. Измерение температуры (термометр).
Типовой комплект поставки модульного учебного лабораторного стенда ГалСен® ОЭТ1-С-К включает в себя оригинальные сменные функциональные блоки зарегистрированного товарного знака ГалСен® и иные компоненты, перечень и описание которых предоставляется по запросу.

Запросить состав стенда (ТЗ)

Дополнительные преимущества сборно-разборных стендов ГалСен®:

  • Технология гибкой модульной сборки — легкая компоновка цепей из сменных блоков ГалСен® по интуитивно понятному принципу конструктора; перекрёстное использование модулей в разных стендах одной или нескольких ваших учебных лабораторий; повышенная отказоустойчивость стенда в целом и оперативный ремонт/замена.
  • Технология масштабирования и бесшовной модернизации — в отличие от монолитных (физически неразъёмных) учебных стендов-моноблоков прошлого поколения, возможна быстрая модернизация модульного стенда ГалСен® и расширение его возможностей путем простого добавления новых функциональных блоков (миниблоков, плат и т.п.) под новые задачи вашего лабораторного практикума.
Потребляемая мощность, В·А, не более
200
Электропитание:   -  от однофазной сети переменного тока     с рабочим нулевым и защитным проводниками     напряжением, В   - частота, Гц
      220 ± 22 50 ± 0,5
Класс защиты от поражения электрическим током  
I
Габаритные размеры, мм, не более   - длина (по фронту)      - ширина (ортогонально фронту)        - высота     
  2х920 850 1400
Масса, кг, не более
80
Количество человек, которое одновременно и активно может работать на комплекте  
  2


Типовой комплект поставки учебного лабораторного оборудования ГалСен® ОЭТ1-С-К включает в себя следующее дидактическое обеспечение:

  1. Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы цифровой техники»
  2. Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы цифровой техники»
  3. Руководство по выполнению базовых экспериментов "Основы аналоговой электроники"
  4. Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы микропроцессорной техники»
  5. Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы цифровой техники»
  6. Сборник руководств по эксплуатации компонентов аппаратной части комплекта ОЭТ1-С-К
  7. Компакт-диск с методическим обеспечением комплекта ОЭТ1-С-К